一文秒（miǎo）懂理學ZSX PrimusIV波長色散X射（shè）線光譜儀特點（diǎn）

www.17c嫩嫩草色在线科學專業代理日本（běn）理學ZSX PrimusIV波長色散X射線光（guāng）譜儀，波長色散型光譜儀可解決多種不同類型樣品金屬元素分析，有效快速幫助各類行加工、生產（chǎn）。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光（guāng）譜儀這款（kuǎn）設（shè）備的特點。

硬件最安全、軟件最安心、維護最方便

萬一（yī）的失誤導致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器（qì）ZSX PrimusIV設計為即便粉末樣品發生粉末飛散也不會損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設計為（wéi）防止操作失誤的用戶分級管理方式。

即便粉末樣品鬆散下落也不會汙染光學係統-上（shàng）照射方式

因為采用上照射方式粉末壓片樣品的粉末飛散、下落也不會貴給光學係統造成影響。也不需要粘貼（tiē）樣品保護薄膜。

新技術的采用和精細的設計-奠定

ZSX PrimusIV的各組件都使用著最先（xiān）端（duān）的要（yào）素技術，加（jiā）之微細處因此，無論是對要求高精細的研究，還（hái）是對大量測量的日（rì）常（cháng）質量。

液體（tǐ）樣品（pǐn）分（fèn）析用真空封擋係統（tǒng）

在樣品室和分（fèn）析室之間以隔壁封擋方式自動置換氦氣，大幅度縮短了由真空向氦氣光路的置換時間。

液（yè）體樣品盒自動識別機構（gòu）

分（fèn）析液體樣品時（shí），樣品室需要置（zhì）換成He氣氛圍。通過液體樣品盒自（zì）動識別機構可以避免液體（tǐ）樣品盒在真空狀態下進入樣品室（shì），從而放心地（dì）測量液體樣品。

樣品盒位置一目了然

樣品台正麵和右側麵均為透明窗，所以坐在（zài）計算機前操作儀器的同時可以一-目了然地（dì）確認分析樣品的位置。

不需要PR氣體的S-PCLE

可以選配測量輕元素的氣體封閉型正比計（jì）數（shù）器(S-PCLE)。方（fāng）便在難以購置PR氣體的地方使用。注:使用F-PC檢測器時，必須使用檢測器用氣體（tǐ）(PR氣體)

獨特的光學係統-減少樣品表麵不平整的（de）影響
被測量樣（yàng）品表麵凹凸不平的話，分析（xī）麵與X光管的距離便（biàn）有差異，這樣的距離差異會帶來強度變化。理（lǐ）學儀器的光學係（xì）統可以減（jiǎn）少由於距離不同引起的X光強的變化。

玻璃熔片時由於坩堝之間底部形狀的差異造成的影響、粉末壓（yā）片時樣品表（biǎo）麵凹凸的影響等都可通過此光學係統予以校準,得到更（gèng）加準確的分析（xī）。

高（gāo）靈敏度（dù）彎晶

可配置PET彎晶和Ge彎（wān）晶。高靈敏度Ge彎晶與平晶相比，對P、S的靈敏度提高（gāo）了30%;高靈敏度PRT彎晶與平晶相比，Al、Si的靈敏度（dù）提高（gāo）了（le）30%。也可以使用在SQX程序中，提高無標樣定量分析的靈敏度。

一次X射（shè）線濾光片

設置在X射線光管（guǎn）和（hé）樣品之間（jiān），用於減（jiǎn）輕X射線（xiàn）光管發出（chū）的連續X射線或特征X射線對（duì）分析譜線的妨礙。

散射（shè）線SQX
使用散射線強度來推定樣品中非測量成分的超輕元素（sù）(C、H、O、N)的影響（xiǎng）,對汙泥（ní）、水垢（gòu）等含有（yǒu）非測量（liàng）成（chéng）分的樣品,不做非測量成分設定便可進行更（gèng）加準確的近似定（dìng）量分析。