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台式測厚儀

日立CMI730多功（gōng）能分析測量儀

日（rì）立CMI730多功能分析測量儀

CMI730專門為要求在苛刻電鍍環境下實現可靠性的金屬版工、塗漆工和質量專業人員而設計。它的（de）顯示在幾英尺之外也清晰可見，並且可幾乎任何角（jiǎo）度查看。
FT160台式XRF適用於電子元件鍍層分析

FT160台式（shì）XRF適用於電（diàn）子元件鍍層分析

FT160台（tái）式XRF鍍層測厚儀，旨在測量當今PCB、半導體和微連接器上的微小（xiǎo）部件。準確、快速地測量微小部件的能力有助於提（tí）高生產（chǎn）率並避免代價高昂的返工或元（yuán）件報廢。
FT230：具有高級功能的微焦斑 XRF 用於大批量鍍層分（fèn）析

FT230：具有高級功能的微焦斑 XRF 用於（yú）大批量鍍層（céng）分析

FT230的（de）每個設計元素均旨在減少（shǎo）完成XRF測（cè）量所（suǒ）需的時間，有助於更快地根（gēn）據測試結果采（cǎi）取行動，減少浪費並提高工作效率。從根本上說，我們（men）讓操作人員與儀器的交互變得越來越簡單。
日立CMI760係列常規金（jīn）屬測厚儀

日立CMI760係列常規金屬測厚（hòu）儀

CMI760接（jiē）受多種探針（zhēn）類型，可（kě）滿足幾乎任何PCB應用，包括表麵銅和孔銅應用。
台式XRF鍍層測厚儀

日立FT110A台（tái）式XRF鍍（dù）層測厚儀，鋅層測（cè）厚儀

FT110A是一款台式XRF分析儀（yí），旨在應對生（shēng）產中鍍層分析的（de）挑戰。強大的X射線熒光技術與自動定位功能相結合（hé），有助於（yú）提高電（diàn）鍍車間的生產力，同時確保組件符合嚴苛標準。
日立X-Strata920 鍍層測厚儀

日立X-Strata920 鍍層測厚儀，台式XRF鍍層測厚儀

X-Strata920是一款高精度台式（shì）XRF鍍層測厚儀，具有多種選擇，可容納多（duō）種類型的樣品。該分析儀非常適合測量（liàng）各種（zhǒng）基材（cái）上的塗層（céng），適合用於確定（dìng）產品質量的電子產品、連接器、裝飾品和珠寶分析

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