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  • 台式XRF鍍層(céng)測厚儀(yí)

日立FT110A台式XRF鍍層測厚(hòu)儀,鋅層(céng)測厚儀

FT110A 是一款台式(shì) XRF 分析儀,旨在應(yīng)對生產(chǎn)中鍍層分析的挑戰(zhàn)。強大的 X 射線熒光技術與自動(dòng)定位功能相結合,有助於提(tí)高電鍍車間的生產力,同時(shí)確保(bǎo)組件符合嚴苛標準。
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日立FT110A台式XRF鍍層測厚儀

FT110A 是一(yī)款台式 XRF 分析儀,旨在應(yīng)對(duì)生產中鍍層分析的挑(tiāo)戰。強大的 X 射線熒光技術與自動定位(wèi)功能相結合,有助(zhù)於提高電鍍車間的生產力,同時確保組件符合嚴苛標準。


準確性和可靠性(xìng)是支持質量控製的 XRF 分(fèn)析的核心,而 FT110A 可(kě)提供當今電鍍組件所需的準確性。更新的成像係統、自動樣品定位和大樣品台使該分析儀非常易於使用,提高了通量並減少了人為錯誤。功能強大的 FT110A 能夠同時測量多達(dá)四層以及(jí)基(jī)材,將全天候支持您的設施滿(mǎn)足行業電鍍規範。


技術規格


FT110A – 測量極小目標


FT110A 幫助諸多的行業確保符合(hé)電鍍規範,以避免出現性能低下的風險以及與廢料或返工(gōng)相關的成本。此外,該儀(yí)器可減少一(yī)係列(liè)測量所需的時間,從而幫助提高(gāo)生產力。


在任何質量保(bǎo)證或質量控製係(xì)統中,準確性和可靠性均至關(guān)重要,擁有改良的 X 射線熒光技術的FT110A將使您的產品滿足最高標準的(de)行業規範要求。


借助更新的成像係統、全新的自動(dòng)測量定位功(gōng)能和大型樣品台,確保這台鍍層分析儀易於使用並提高分析效(xiào)率。


基於Windows係統的(de)X-ray Station軟(ruǎn)件提供(gòng)直(zhí)觀的用戶界麵(miàn),用戶可對該儀器進(jìn)行(háng)全麵控製。


通過將數據直接整合到 Microsoft™ Word和Excel中來簡化您的質量保(bǎo)證/質(zhì)量控製流(liú)程(chéng)。


FT110A測(cè)厚儀


為何如此多的(de)實驗室改為使用 FT110A?


快速分析

強大的高靈敏度分析組件可以在數秒內測量鍍層厚度和成分。


無損

X 射線熒光是無(wú)損分析(xī)過程,不留任何痕跡。即使是對敏感性材料,其測量(liàng)也是安全的;同時無需丟棄被測量過的樣品。


多功能性

FT110A 可以(yǐ)分析多達四層鍍層和基材。可以使用基本參數(shù) (FP) 或經驗(yàn)校準來測量鍍層(céng)和材料成分(如金屬合金或電鍍液)。


易(yì)於使用

培訓可輕鬆完成(chéng),因此任何人都可(kě)以操作(zuò) FT110A。隻需在工作台上設置樣品,借助友好(hǎo)的界麵指定測量區域,然(rán)後開始記錄(lù)讀數。用戶界麵可配置為僅顯示日(rì)常操作所需的功能。


快速分析

強大的高靈敏度分析組件可以在數秒內測量鍍層(céng)厚度和成分。


兼容性

測量方法符合標準 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。


FT110A操作(zuò)簡單


產品亮點


專為高通量生產而設計,來(lái)看(kàn) FT110A 如何(hé)支持您的質量控製。



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